SiC-Substrat 3 Zoll 350 µm Dicke HPSI-Typ Prime Grade Dummy-Qualität

Kurzbeschreibung:

Die 3-Zoll-Wafer aus hochreinem Siliziumkarbid (SiC) wurden speziell für anspruchsvolle Anwendungen in der Leistungselektronik, Optoelektronik und fortgeschrittenen Forschung entwickelt. Diese Wafer sind in Produktions-, Forschungs- und Dummy-Qualität erhältlich und bieten einen außergewöhnlichen spezifischen Widerstand, eine geringe Defektdichte und eine hervorragende Oberflächenqualität. Mit undotierten halbisolierenden Eigenschaften bieten sie die ideale Plattform für die Herstellung von Hochleistungsgeräten, die unter extremen thermischen und elektrischen Bedingungen betrieben werden.


Produktdetails

Produkt-Tags

Eigenschaften

Parameter

Produktionsqualität

Forschungsgrad

Dummy-Note

Einheit

Grad Produktionsqualität Forschungsgrad Dummy-Note  
Durchmesser 76,2 ± 0,5 76,2 ± 0,5 76,2 ± 0,5 mm
Dicke 500 ± 25 500 ± 25 500 ± 25 µm
Waferausrichtung Auf der Achse: <0001> ± 0,5° Auf der Achse: <0001> ± 2,0° Auf der Achse: <0001> ± 2,0° Grad
Mikrorohrdichte (MPD) ≤ 1 ≤ 5 ≤ 10 cm−2^-2−2
Elektrischer Widerstand ≥ 1E10 ≥ 1E5 ≥ 1E5 Ω·cm
Dotierstoff Undotiert Undotiert Undotiert  
Primäre flache Ausrichtung {1-100} ± 5,0° {1-100} ± 5,0° {1-100} ± 5,0° Grad
Primäre flache Länge 32,5 ± 3,0 32,5 ± 3,0 32,5 ± 3,0 mm
Sekundäre flache Länge 18,0 ± 2,0 18,0 ± 2,0 18,0 ± 2,0 mm
Sekundäre flache Ausrichtung 90° CW von der Primärebene ± 5,0° 90° CW von der Primärebene ± 5,0° 90° CW von der Primärebene ± 5,0° Grad
Kantenausschluss 3 3 3 mm
LTV/TTV/Bogen/Warp 3 / 10 / ±30 / 40 3 / 10 / ±30 / 40 5 / 15 / ±40 / 45 µm
Oberflächenrauheit Si-Fläche: CMP, C-Fläche: Poliert Si-Fläche: CMP, C-Fläche: Poliert Si-Fläche: CMP, C-Fläche: Poliert  
Risse (hochintensives Licht) Keiner Keiner Keiner  
Sechskantplatten (hochintensives Licht) Keiner Keiner Kumulierte Fläche 10 % %
Polytype-Bereiche (hochintensives Licht) Kumulierte Fläche 5 % Kumulierte Fläche 20 % Kumulierte Fläche 30 % %
Kratzer (hochintensives Licht) ≤ 5 Kratzer, Gesamtlänge ≤ 150 ≤ 10 Kratzer, Gesamtlänge ≤ 200 ≤ 10 Kratzer, Gesamtlänge ≤ 200 mm
Kantenabplatzer Keine ≥ 0,5 mm Breite/Tiefe 2 erlaubt ≤ 1 mm Breite/Tiefe 5 erlaubt ≤ 5 mm Breite/Tiefe mm
Oberflächenkontamination Keiner Keiner Keiner  

Anwendungen

1. Hochleistungselektronik
Die hervorragende Wärmeleitfähigkeit und die große Bandlücke von SiC-Wafern machen sie ideal für Hochleistungs-Hochfrequenzgeräte:
●MOSFETs und IGBTs zur Leistungsumwandlung.
●Fortschrittliche Stromversorgungssysteme für Elektrofahrzeuge, einschließlich Wechselrichter und Ladegeräte.
●Intelligente Netzinfrastruktur und erneuerbare Energiesysteme.
2. HF- und Mikrowellensysteme
SiC-Substrate ermöglichen Hochfrequenz-HF- und Mikrowellenanwendungen mit minimalem Signalverlust:
●Telekommunikations- und Satellitensysteme.
●Radarsysteme für die Luft- und Raumfahrt.
●Erweiterte 5G-Netzwerkkomponenten.
3. Optoelektronik und Sensoren
Die einzigartigen Eigenschaften von SiC unterstützen eine Vielzahl optoelektronischer Anwendungen:
●UV-Detektoren für die Umweltüberwachung und industrielle Sensorik.
●LED- und Lasersubstrate für Festkörperbeleuchtung und Präzisionsinstrumente.
●Hochtemperatursensoren für die Luft- und Raumfahrt- und Automobilindustrie.
4. Forschung und Entwicklung
Die Vielfalt der Qualitäten (Produktion, Forschung, Dummy) ermöglicht hochmoderne Experimente und Geräteprototypen in Wissenschaft und Industrie.

Vorteile

●Zuverlässigkeit:Hervorragender spezifischer Widerstand und Stabilität in allen Qualitäten.
●Anpassung:Maßgeschneiderte Ausrichtungen und Dicken für unterschiedliche Anforderungen.
●Hohe Reinheit:Die undotierte Zusammensetzung sorgt für minimale verunreinigungsbedingte Schwankungen.
●Skalierbarkeit:Erfüllt die Anforderungen sowohl der Massenproduktion als auch der experimentellen Forschung.
Die hochreinen 3-Zoll-SiC-Wafer sind Ihr Tor zu Hochleistungsgeräten und innovativen technologischen Fortschritten. Für Anfragen und detaillierte Spezifikationen kontaktieren Sie uns noch heute.

Zusammenfassung

Die 3-Zoll-Wafer aus hochreinem Siliziumkarbid (SiC), erhältlich in Produktions-, Forschungs- und Dummy-Qualität, sind Premium-Substrate, die für Hochleistungselektronik, HF-/Mikrowellensysteme, Optoelektronik und fortgeschrittene Forschung und Entwicklung entwickelt wurden. Diese Wafer zeichnen sich durch undotierte, halbisolierende Eigenschaften mit ausgezeichnetem spezifischem Widerstand (≥1E10 Ω·cm für Produktionsqualität), geringer Mikroröhrendichte (≤1 cm−2^-2−2) und außergewöhnlicher Oberflächenqualität aus. Sie sind für Hochleistungsanwendungen optimiert, darunter Energieumwandlung, Telekommunikation, UV-Sensorik und LED-Technologien. Mit anpassbaren Ausrichtungen, hervorragender Wärmeleitfähigkeit und robusten mechanischen Eigenschaften ermöglichen diese SiC-Wafer eine effiziente, zuverlässige Geräteherstellung und bahnbrechende Innovationen in allen Branchen.

Detailliertes Diagramm

SiC halbisolierend04
SiC halbisolierend05
SiC halbisolierend01
SiC halbisolierend06

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