Produkte
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4H-N 4-Zoll-SiC-Substratwafer Siliziumkarbid-Produktionsdummy Forschungsqualität
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Hochpräzise Dia50x5mmt-Saphirfenster. Hohe Temperaturbeständigkeit und hohe Härte
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6 Zoll 150 mm Siliziumkarbid-SiC-Wafer vom Typ 4H-N für MOS- oder SBD-Produktionsforschung und Dummy-Qualität
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Stufenlöcher mit einem Durchmesser von 25,4 × 2,0 mm. Fenster für optische Saphirlinsen
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2-Zoll-50,8-mm-Einzelwafer-Trägerbox aus PC und PP
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Optische Elemente des Saphirfensters beschichtet, Spezifikationen in mehreren Größen. Optisches Infrarotfenster
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2 Zoll 50,8 mm Germanium-Wafer-Substrat Einkristall 1SP 2SP
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3 Zoll 4 Zoll 6 Zoll LiNbO3 Wafer Substrat Einkristallmaterial
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2-Zoll-50,8-mm-Einzelwafer-Trägerbox aus PC und PP
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8-Zoll-Lithiumniobat-Wafer LiNbO3 LN-Wafer
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50,8 mm 2 Zoll GaN auf Saphir-Epi-Schicht-Wafer
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2 Zoll 50,8 mm Saphirwafer C-Ebene M-Ebene R-Ebene A-Ebene Dicke 350 µm 430 µm 500 µm