50,8 mm 2 Zoll GaN auf Saphir-Epi-Layer-Wafer

Kurze Beschreibung:

Als Halbleitermaterial der dritten Generation bietet Galliumnitrid die Vorteile hoher Temperaturbeständigkeit, hoher Kompatibilität, hoher Wärmeleitfähigkeit und großer Bandlücke. Je nach Substratmaterial lassen sich Galliumnitrid-Epitaxieschichten in vier Kategorien unterteilen: Galliumnitrid auf Galliumnitridbasis, Galliumnitrid auf Siliziumkarbidbasis, Galliumnitrid auf Saphirbasis und Galliumnitrid auf Siliziumbasis. Galliumnitrid-Epitaxieschichten auf Siliziumbasis sind das am weitesten verbreitete Produkt mit niedrigen Produktionskosten und ausgereifter Produktionstechnologie.


Produktdetail

Produkt Tags

Anwendung von Galliumnitrid-GaN-Epitaxiefolien

Aufgrund der Leistungsfähigkeit von Galliumnitrid eignen sich Galliumnitrid-Epitaxiechips vor allem für Anwendungen mit hoher Leistung, hoher Frequenz und niedriger Spannung.

Es spiegelt sich wider in:

1) Hohe Bandlücke: Eine hohe Bandlücke verbessert den Spannungspegel von Galliumnitrid-Bauelementen und ermöglicht eine höhere Ausgangsleistung als Galliumarsenid-Bauelemente, was sich besonders für 5G-Kommunikationsbasisstationen, Militärradare und andere Bereiche eignet;

2) Hohe Umwandlungseffizienz: Der Einschaltwiderstand von Galliumnitrid-Schaltleistungselektronikgeräten ist drei Größenordnungen niedriger als der von Siliziumgeräten, wodurch der Einschaltverlust erheblich reduziert werden kann.

3) Hohe Wärmeleitfähigkeit: Die hohe Wärmeleitfähigkeit von Galliumnitrid sorgt für eine hervorragende Wärmeableitungsleistung und eignet sich für die Herstellung von Geräten mit hoher Leistung, hohen Temperaturen und anderen Bereichen.

4) Durchschlagsfeldstärke: Obwohl die Durchschlagsfeldstärke von Galliumnitrid der von Siliziumnitrid nahe kommt, beträgt die Spannungstoleranz von Galliumnitrid-Bauelementen aufgrund von Halbleiterprozessen, Materialgitterfehlanpassungen und anderen Faktoren normalerweise etwa 1000 V und die sichere Betriebsspannung liegt normalerweise unter 650 V.

Artikel

GaN-TCU-C50

GaN-TCN-C50

GaN-TCP-C50

Maße

e 50,8 mm ± 0,1 mm

Dicke

4,5 ± 0,5 µm

4,5 ± 0,5 µm

Orientierung

C-Ebene(0001) ±0,5°

Leitungstyp

N-Typ (undotiert)

N-Typ (Si-dotiert)

P-Typ (Mg-dotiert)

Spezifischer Widerstand (300 K)

< 0,5 Q・cm

< 0,05 Q・cm

~ 10 Q・cm

Trägerkonzentration

< 5x1017cm-3

> 1x1018cm-3

> 6x1016 cm-3

Mobilität

~ 300 cm2/Vs

~ 200 cm2/Vs

~ 10 cm2/Vs

Versetzungsdichte

Weniger als 5x108cm-2(berechnet anhand der FWHMs von XRD)

Substratstruktur

GaN auf Saphir (Standard: SSP, Option: DSP)

Nutzfläche

> 90 %

Paket

Verpackt in einer Reinraumumgebung der Klasse 100, in Kassetten zu 25 Stück oder einzelnen Waferbehältern, unter Stickstoffatmosphäre.

* Andere Dicken können angepasst werden

Detailliertes Diagramm

WechatIMG249
Vav
WechatIMG250

  • Vorherige:
  • Nächste:

  • Schreiben Sie hier Ihre Nachricht und senden Sie sie an uns