8-Zoll-SiC-Wafer 4H-N-SiC-Substrat in Produktionsqualität

Kurzbeschreibung:

8-Zoll-SiC-Substrate werden in elektronischen Hochleistungsgeräten wie Leistungs-MOSFETs (Metalloxid-Halbleiter-Feldeffekttransistoren), Schottky-Dioden und anderen Leistungshalbleitergeräten verwendet.


Produktdetails

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Die folgende Tabelle zeigt die Spezifikationen unserer 8-Zoll-SiC-Wafer:

8-Zoll-N-Typ-SiC-DSP-Spezifikationen

Nummer Artikel Einheit Produktion Forschung Dummy
1:Parameter
1.1 Polytyp -- 4H 4H 4H
1.2 Oberflächenorientierung ° <11-20>4±0,5 <11-20>4±0,5 <11-20>4±0,5
2:Elektrischer Parameter
2.1 Dotierstoff -- Stickstoff vom n-Typ Stickstoff vom n-Typ Stickstoff vom n-Typ
2.2 Widerstand Ohm ·cm 0,015~0,025 0,01~0,03 NA
3:Mechanische Parameter
3.1 Durchmesser mm 200 ± 0,2 200 ± 0,2 200 ± 0,2
3.2 Dicke μm 500 ± 25 500 ± 25 500 ± 25
3.3 Kerbenausrichtung ° [1- 100]±5 [1- 100]±5 [1- 100]±5
3.4 Kerbtiefe mm 1~1,5 1~1,5 1~1,5
3.5 LTV μm ≤5(10mm*10mm) ≤5(10mm*10mm) ≤10(10mm*10mm)
3.6 TTV μm ≤10 ≤10 ≤15
3.7 Bogen μm -25~25 -45~45 -65~65
3.8 Kette μm ≤30 ≤50 ≤70
3.9 AFM nm Ra≤0,2 Ra≤0,2 Ra≤0,2
4:Struktur
4.1 Mikrorohrdichte ea/cm2 ≤2 ≤10 ≤50
4.2 Metallgehalt Atome/cm2 ≤1E11 ≤1E11 NA
4.3 TSD ea/cm2 ≤500 ≤1000 NA
4.4 BPD ea/cm2 ≤2000 ≤5000 NA
4.5 TED ea/cm2 ≤7000 ≤10000 NA
5.Frontqualität
5.1 Front -- Si Si Si
5.2 Oberflächenbeschaffenheit -- Si-Face-CMP Si-Face-CMP Si-Face-CMP
5.3 Teilchen Stück/Wafer ≤100 (Größe ≥ 0,3 μm) NA NA
5.4 kratzen Stück/Wafer ≤5, Gesamtlänge≤200mm NA NA
5.5 Rand
Absplitterungen/Beulen/Risse/Flecken/Verunreinigung
-- Keiner Keiner NA
5.6 Polytypiebereiche -- Keiner Fläche ≤10 % Fläche ≤30 %
5.7 vordere Markierung -- Keiner Keiner Keiner
6:Rückenqualität
6.1 hinterer Abschluss -- C-Gesicht MP C-Gesicht MP C-Gesicht MP
6.2 kratzen mm NA NA NA
6.3 Rückenfehler am Rand
Chips/Einkerbungen
-- Keiner Keiner NA
6.4 Rückenrauheit nm Ra≤5 Ra≤5 Ra≤5
6.5 Rückenmarkierung -- Kerbe Kerbe Kerbe
7: Kante
7.1 Rand -- Fase Fase Fase
8: Paket
8.1 Verpackung -- Epi-ready mit Vakuum
Verpackung
Epi-ready mit Vakuum
Verpackung
Epi-ready mit Vakuum
Verpackung
8.2 Verpackung -- Multi-Wafer
Kassettenverpackung
Multi-Wafer
Kassettenverpackung
Multi-Wafer
Kassettenverpackung

Detailliertes Diagramm

asd (1)
asd (2)
ASD (3)

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