8-Zoll-SiC-Wafer 4H-N-SiC-Substrat in Produktionsqualität
Die folgende Tabelle zeigt die Spezifikationen unserer 8-Zoll-SiC-Wafer:
8-Zoll-N-Typ-SiC-DSP-Spezifikationen | |||||
Nummer | Artikel | Einheit | Produktion | Forschung | Dummy |
1:Parameter | |||||
1.1 | Polytyp | -- | 4H | 4H | 4H |
1.2 | Oberflächenorientierung | ° | <11-20>4±0,5 | <11-20>4±0,5 | <11-20>4±0,5 |
2:Elektrischer Parameter | |||||
2.1 | Dotierstoff | -- | Stickstoff vom n-Typ | Stickstoff vom n-Typ | Stickstoff vom n-Typ |
2.2 | Widerstand | Ohm ·cm | 0,015~0,025 | 0,01~0,03 | NA |
3:Mechanische Parameter | |||||
3.1 | Durchmesser | mm | 200 ± 0,2 | 200 ± 0,2 | 200 ± 0,2 |
3.2 | Dicke | μm | 500 ± 25 | 500 ± 25 | 500 ± 25 |
3.3 | Kerbenausrichtung | ° | [1- 100]±5 | [1- 100]±5 | [1- 100]±5 |
3.4 | Kerbtiefe | mm | 1~1,5 | 1~1,5 | 1~1,5 |
3.5 | LTV | μm | ≤5(10mm*10mm) | ≤5(10mm*10mm) | ≤10(10mm*10mm) |
3.6 | TTV | μm | ≤10 | ≤10 | ≤15 |
3.7 | Bogen | μm | -25~25 | -45~45 | -65~65 |
3.8 | Kette | μm | ≤30 | ≤50 | ≤70 |
3.9 | AFM | nm | Ra≤0,2 | Ra≤0,2 | Ra≤0,2 |
4:Struktur | |||||
4.1 | Mikrorohrdichte | ea/cm2 | ≤2 | ≤10 | ≤50 |
4.2 | Metallgehalt | Atome/cm2 | ≤1E11 | ≤1E11 | NA |
4.3 | TSD | ea/cm2 | ≤500 | ≤1000 | NA |
4.4 | BPD | ea/cm2 | ≤2000 | ≤5000 | NA |
4.5 | TED | ea/cm2 | ≤7000 | ≤10000 | NA |
5.Frontqualität | |||||
5.1 | Front | -- | Si | Si | Si |
5.2 | Oberflächenbeschaffenheit | -- | Si-Face-CMP | Si-Face-CMP | Si-Face-CMP |
5.3 | Teilchen | Stück/Wafer | ≤100 (Größe ≥ 0,3 μm) | NA | NA |
5.4 | kratzen | Stück/Wafer | ≤5, Gesamtlänge≤200mm | NA | NA |
5.5 | Rand Absplitterungen/Beulen/Risse/Flecken/Verunreinigung | -- | Keiner | Keiner | NA |
5.6 | Polytypiebereiche | -- | Keiner | Fläche ≤10 % | Fläche ≤30 % |
5.7 | vordere Markierung | -- | Keiner | Keiner | Keiner |
6:Rückenqualität | |||||
6.1 | hinterer Abschluss | -- | C-Gesicht MP | C-Gesicht MP | C-Gesicht MP |
6.2 | kratzen | mm | NA | NA | NA |
6.3 | Rückenfehler am Rand Chips/Einkerbungen | -- | Keiner | Keiner | NA |
6.4 | Rückenrauheit | nm | Ra≤5 | Ra≤5 | Ra≤5 |
6.5 | Rückenmarkierung | -- | Kerbe | Kerbe | Kerbe |
7: Kante | |||||
7.1 | Rand | -- | Fase | Fase | Fase |
8: Paket | |||||
8.1 | Verpackung | -- | Epi-ready mit Vakuum Verpackung | Epi-ready mit Vakuum Verpackung | Epi-ready mit Vakuum Verpackung |
8.2 | Verpackung | -- | Multi-Wafer Kassettenverpackung | Multi-Wafer Kassettenverpackung | Multi-Wafer Kassettenverpackung |
Detailliertes Diagramm
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