4-Zoll-SiC-Epi-Wafer für MOS oder SBD

Kurze Beschreibung:

SiCC verfügt über eine komplette Produktionslinie für SiC-(Siliziumkarbid)-Wafersubstrate, die Kristallwachstum, Waferverarbeitung, Waferherstellung, Polieren, Reinigen und Testen integriert. Derzeit können wir axiale oder außeraxiale halbisolierende und halbleitende 4H- und 6H-SiC-Wafer in den Größen 5 x 5 mm², 10 x 10 mm², 2″, 3″, 4″ und 6″ liefern und dabei bahnbrechende Neuerungen bei der Defektunterdrückung, der Kristallkeimverarbeitung und dem schnellen Wachstum usw. erzielen. Wir haben bahnbrechende Neuerungen bei Schlüsseltechnologien wie der Defektunterdrückung, der Kristallkeimverarbeitung und dem schnellen Wachstum erzielt und die Grundlagenforschung und Entwicklung der Siliziumkarbid-Epitaxie, von Bauelementen und anderer damit verbundener Grundlagenforschung vorangetrieben.


Merkmale

Epitaxie bezeichnet das Wachstum einer Schicht aus hochwertigem Einkristallmaterial auf der Oberfläche eines Siliziumkarbidsubstrats. Das Wachstum einer Galliumnitrid-Epitaxieschicht auf einem halbisolierenden Siliziumkarbidsubstrat wird als heterogene Epitaxie bezeichnet; das Wachstum einer Siliziumkarbid-Epitaxieschicht auf der Oberfläche eines leitfähigen Siliziumkarbidsubstrats wird als homogene Epitaxie bezeichnet.

Epitaxie ist das Wachstum der Hauptfunktionsschicht gemäß den Anforderungen des Gerätedesigns und bestimmt weitgehend die Leistung des Chips und des Geräts, die Kosten betragen 23 %. Die wichtigsten Methoden der SiC-Dünnschichtepitaxie in dieser Phase umfassen: chemische Gasphasenabscheidung (CVD), Molekularstrahlepitaxie (MBE), Flüssigphasenepitaxie (LPE) und gepulste Laserabscheidung und Sublimation (PLD).

Die Epitaxie ist ein ganz entscheidendes Bindeglied in der gesamten Branche. Durch das Züchten epitaktischer GaN-Schichten auf halbisolierenden Siliziumkarbidsubstraten werden epitaktische GaN-Wafer auf Siliziumkarbidbasis hergestellt, die weiter zu GaN-HF-Geräten wie Transistoren mit hoher Elektronenmobilität (HEMTs) verarbeitet werden können.

Durch das Aufwachsen einer Siliziumkarbid-Epitaxieschicht auf einem leitfähigen Substrat erhält man Siliziumkarbid-Epitaxiewafer. Diese Epitaxieschicht wird bei der Herstellung von Schottky-Dioden, Gold-Sauerstoff-Halbfeldeffekttransistoren, Bipolartransistoren mit isolierter Gate-Elektrode und anderen Leistungsbauelementen verwendet. Daher hat die Qualität der Epitaxie einen sehr großen Einfluss auf die Leistung des Bauelements und spielt auch für die Entwicklung der Branche eine sehr entscheidende Rolle.

Detailliertes Diagramm

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