Siliziumkarbid-Keramik-Chuck für SiC-Saphir-Si-GAAs-Wafer

Kurzbeschreibung:

Der Siliziumkarbid-Keramik-Spannfutter ist eine Hochleistungsplattform, die speziell für die Halbleiterinspektion, Waferfertigung und Bondanwendungen entwickelt wurde. Hergestellt aus fortschrittlichen Keramikwerkstoffen – darunter gesintertes SiC (SSiC), reaktionsgebundenes SiC (RSiC), Siliziumnitrid und Aluminiumnitrid – bietet er hohe Steifigkeit, geringe Wärmeausdehnung, ausgezeichnete Verschleißfestigkeit und lange Lebensdauer.


Merkmale

Detailliertes Diagramm

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Übersicht über Siliziumkarbid (SiC)-Keramikfutter

DerSiliziumkarbid-Keramikfutterist eine Hochleistungsplattform, die für die Halbleiterinspektion, Waferfertigung und Bonding-Anwendungen entwickelt wurde. Sie besteht aus fortschrittlichen Keramikmaterialien – daruntergesintertes SiC (SSiC), reaktionsgebundenes SiC (RSiC), Siliziumnitrid, UndAluminiumnitrid—es bietethohe Steifigkeit, geringe Wärmeausdehnung, ausgezeichnete Verschleißfestigkeit und lange Lebensdauer.

Dank präziser Konstruktion und modernster Poliertechnik liefert das SpannfutterSubmikron-Ebenheit, spiegelglatte Oberflächen und langfristige Dimensionsstabilitätdamit ist es die ideale Lösung für kritische Halbleiterprozesse.

Wichtigste Vorteile

  • Hohe Präzision
    Ebenheit kontrolliert innerhalb0,3–0,5 μm, wodurch die Stabilität der Wafer und eine gleichbleibende Prozessgenauigkeit gewährleistet werden.

  • Hochglanzpolieren
    ErreichtRa 0,02 μmOberflächenrauheit, wodurch Kratzer und Verunreinigungen auf dem Wafer minimiert werden – perfekt für ultrareine Umgebungen.

  • Ultraleicht
    Stärker und dennoch leichter als Quarz- oder Metallsubstrate, was die Bewegungssteuerung, die Reaktionsfähigkeit und die Positionierungsgenauigkeit verbessert.

  • Hohe Steifigkeit
    Der außergewöhnlich hohe Elastizitätsmodul gewährleistet Dimensionsstabilität auch unter hoher Belastung und bei hohen Betriebsgeschwindigkeiten.

  • Geringe Wärmeausdehnung
    Der Wärmeausdehnungskoeffizient (CTE) ist eng an den von Siliziumwafern angepasst, wodurch die thermische Belastung reduziert und die Prozesszuverlässigkeit erhöht wird.

  • Hervorragende Verschleißfestigkeit
    Die extreme Härte gewährleistet Planheit und Präzision auch bei langfristiger, hochfrequenter Nutzung.

Herstellungsprozess

  • Rohmaterialvorbereitung
    Hochreine SiC-Pulver mit kontrollierter Partikelgröße und extrem niedrigem Verunreinigungsgrad.

  • Formen und Sintern
    Techniken wiedruckloses Sintern (SSiC) or Reaktionsbindung (RSiC)dichte, gleichmäßige Keramiksubstrate herstellen.

  • Präzisionsbearbeitung
    CNC-Schleifen, Lasertrimmen und Ultrapräzisionsbearbeitung erreichen eine Toleranz von ±0,01 mm und eine Parallelität von ≤3 μm.

  • Oberflächenbehandlung
    Mehrstufiges Schleifen und Polieren bis zu einer Oberflächenrauheit von Ra 0,02 μm; optionale Beschichtungen für Korrosionsbeständigkeit oder kundenspezifische Reibungseigenschaften erhältlich.

  • Inspektion und Qualitätskontrolle
    Interferometer und Rauheitsmessgeräte überprüfen die Einhaltung der Spezifikationen für Halbleiterqualität.

Technische Spezifikationen

Parameter Wert Einheit
Ebenheit ≤0,5 μm
Wafergrößen 6'', 8'', 12'' (Sonderanfertigungen möglich)
Oberflächenart Stifttyp / Ringtyp
Stifthöhe 0,05–0,2 mm
Mindeststiftdurchmesser ϕ0,2 mm
Mindeststiftabstand 3 mm
Mindestbreite des Dichtungsrings 0,7 mm
Oberflächenrauheit Ra 0,02 μm
Dickentoleranz ±0,01 mm
Durchmessertoleranz ±0,01 mm
Parallelismustoleranz ≤3 μm

 

Hauptanwendungen

  • Halbleiterwafer-Inspektionsgeräte

  • Wafer-Fertigungs- und Transfersysteme

  • Wafer-Bonding- und Verpackungswerkzeuge

  • Fertigung fortschrittlicher optoelektronischer Bauelemente

  • Präzisionsinstrumente, die ultra-ebene, ultra-saubere Oberflächen erfordern

Fragen und Antworten – Siliziumkarbid-Keramikfutter

Frage 1: Wie schneiden SiC-Keramik-Spannfutter im Vergleich zu Quarz- oder Metall-Spannfuttern ab?
A1: SiC-Chucks sind leichter, steifer und weisen einen ähnlichen Wärmeausdehnungskoeffizienten wie Siliziumwafer auf, wodurch thermische Verformungen minimiert werden. Sie bieten zudem eine höhere Verschleißfestigkeit und eine längere Lebensdauer.

Frage 2: Welche Flachheit kann erreicht werden?
A2: Kontrolliert innerhalb0,3–0,5 μm, um die strengen Anforderungen der Halbleiterproduktion zu erfüllen.

Frage 3: Kann die Oberfläche Wafer zerkratzen?
A3: Nein – hochglanzpoliert bisRa 0,02 μmDadurch wird eine kratzfreie Handhabung und eine reduzierte Partikelbildung gewährleistet.

Frage 4: Welche Wafergrößen werden unterstützt?
A4: Standardgrößen von6'', 8'' und 12'', mit der Möglichkeit zur individuellen Anpassung.

Frage 5: Wie hoch ist der Wärmewiderstand?
A5: SiC-Keramiken bieten hervorragende Hochtemperatureigenschaften bei minimaler Verformung unter thermischer Belastung.

Über uns

XKH ist spezialisiert auf die Entwicklung, Produktion und den Vertrieb von Spezialglas und neuen Kristallmaterialien. Unsere Produkte finden Anwendung in der Optoelektronik, der Unterhaltungselektronik und im Militärbereich. Wir bieten optische Saphirkomponenten, Objektivabdeckungen für Mobiltelefone, Keramik, LT, Siliziumkarbid (SiC), Quarz und Halbleiterkristallwafer an. Dank unserer Expertise und modernster Ausrüstung zeichnen wir uns durch die Fertigung von Sonderanfertigungen aus und streben die Position eines führenden Hightech-Unternehmens für optoelektronische Materialien an.

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