4-Zoll-, 6-Zoll- und 8-Zoll-SiC-Kristallzuchtofen für das CVD-Verfahren
Funktionsprinzip
Das Kernprinzip unseres CVD-Systems beruht auf der thermischen Zersetzung von siliziumhaltigen (z. B. SiH₄) und kohlenstoffhaltigen (z. B. C₃H₈) Vorläufergasen bei hohen Temperaturen (typischerweise 1500–2000 °C). Dabei werden SiC-Einkristalle durch chemische Gasphasenreaktionen auf Substraten abgeschieden. Diese Technologie eignet sich besonders zur Herstellung hochreiner (>99,9995 %) 4H/6H-SiC-Einkristalle mit geringer Defektdichte (<1000/cm²) und erfüllt somit die hohen Materialanforderungen für Leistungselektronik und HF-Bauelemente. Durch die präzise Steuerung von Gaszusammensetzung, Durchflussrate und Temperaturgradient ermöglicht das System die genaue Einstellung des Leitfähigkeitstyps (N/P-Typ) und des spezifischen Widerstands der Kristalle.
Systemtypen und technische Parameter
| Systemtyp | Temperaturbereich | Hauptmerkmale | Anwendungen |
| Hochtemperatur-CVD | 1500-2300 °C | Graphit-Induktionserwärmung, Temperaturhomogenität ±5°C | Wachstum von SiC-Kristallen |
| Heißdraht-CVD | 800-1400 °C | Wolframdrahtheizung, Abscheidungsrate 10-50 μm/h | SiC-Dickepitaxie |
| VPE CVD | 1200-1800°C | Mehrzonen-Temperaturregelung, >80% Gasausnutzung | Massenproduktion von Epi-Wafern |
| PECVD | 400-800 °C | Plasmaverstärkt, Abscheidungsrate 1-10 μm/h | SiC-Dünnschichten für niedrige Temperaturen |
Wichtigste technische Merkmale
1. Fortschrittliches Temperaturregelungssystem
Der Ofen verfügt über ein Mehrzonen-Widerstandsheizsystem, das Temperaturen bis zu 2300 °C mit einer Gleichmäßigkeit von ±1 °C über die gesamte Wachstumskammer hinweg aufrechterhalten kann. Diese präzise Temperaturregelung wird erreicht durch:
12 unabhängig voneinander steuerbare Heizzonen.
Redundante Thermoelementüberwachung (Typ C W-Re).
Algorithmen zur Anpassung des Temperaturprofils in Echtzeit.
Wassergekühlte Kammerwände zur Kontrolle des Temperaturgradienten.
2. Gaszufuhr- und Mischtechnologie
Unser firmeneigenes Gasverteilungssystem gewährleistet eine optimale Vorläufermischung und gleichmäßige Zufuhr:
Massenflussregler mit einer Genauigkeit von ±0,05 sccm.
Mehrpunkt-Gaseinspritzverteiler.
In-situ-Überwachung der Gaszusammensetzung (FTIR-Spektroskopie).
Automatische Durchflusskompensation während Wachstumszyklen.
3. Verbesserung der Kristallqualität
Das System beinhaltet mehrere Innovationen zur Verbesserung der Kristallqualität:
Rotierender Substrathalter (0-100 U/min programmierbar).
Fortschrittliche Grenzschichtsteuerungstechnologie.
In-situ-Defektüberwachungssystem (UV-Laserstreuung).
Automatischer Stressausgleich während des Wachstums.
4. Prozessautomatisierung und -steuerung
Vollautomatische Rezeptausführung.
KI zur Echtzeit-Optimierung von Wachstumsparametern.
Fernüberwachung und -diagnose.
Protokollierung von über 1000 Parameterdaten (Speicherung für 5 Jahre).
5. Sicherheitsmerkmale und Zuverlässigkeitsmerkmale
Dreifach redundanter Überhitzungsschutz.
Automatisches Notspülsystem.
Erdbebensichere Tragwerksplanung.
98,5 % Verfügbarkeitsgarantie.
6. Skalierbare Architektur
Die modulare Bauweise ermöglicht Kapazitätserweiterungen.
Kompatibel mit Wafergrößen von 100 mm bis 200 mm.
Unterstützt sowohl vertikale als auch horizontale Konfigurationen.
Schnellwechselkomponenten für Wartungsarbeiten.
7. Energieeffizienz
30 % geringerer Stromverbrauch als bei vergleichbaren Systemen.
Das Wärmerückgewinnungssystem nutzt 60 % der Abwärme.
Optimierte Algorithmen zum Gasverbrauch.
Anforderungen an LEED-konforme Einrichtungen.
8. Materialvielfalt
Züchtet alle wichtigen SiC-Polytypen (4H, 6H, 3C).
Unterstützt sowohl leitfähige als auch halbisolierende Varianten.
Geeignet für verschiedene Dotierungsschemata (N-Typ, P-Typ).
Kompatibel mit alternativen Vorläufern (z. B. TMS, TES).
9. Leistung des Vakuumsystems
Basisdruck: <1×10⁻⁶ Torr
Leckrate: <1×10⁻⁹ Torr·L/sec
Pumpgeschwindigkeit: 5000 l/s (für SiH₄)
Automatische Druckregelung während der Wachstumszyklen
Diese umfassende technische Spezifikation belegt die Fähigkeit unseres Systems, SiC-Kristalle in Forschungs- und Produktionsqualität mit branchenführender Konsistenz und Ausbeute herzustellen. Die Kombination aus präziser Steuerung, fortschrittlicher Überwachung und robuster Konstruktion macht dieses CVD-System zur optimalen Wahl für Forschungs- und Entwicklungsanwendungen sowie die Serienfertigung in der Leistungselektronik, HF-Bauelementen und anderen fortschrittlichen Halbleiteranwendungen.
Wichtigste Vorteile
1. Hochwertiges Kristallwachstum
• Defektdichte bis zu <1000/cm² (4H-SiC)
• Dotierungsgleichmäßigkeit <5% (6-Zoll-Wafer)
• Kristallreinheit >99,9995 %
2. Produktionskapazität für große Stückzahlen
• Unterstützt Waferwachstum bis zu 8 Zoll
• Durchmessergleichmäßigkeit >99%
• Dickenabweichung <±2%
3. Präzise Prozesssteuerung
• Temperaturregelungsgenauigkeit ±1°C
• Genauigkeit der Gasdurchflussregelung ±0,1 sccm
• Druckregelungsgenauigkeit ±0,1 Torr
4. Energieeffizienz
• 30 % energieeffizienter als herkömmliche Methoden
• Wachstumsrate bis zu 50–200 μm/h
• Geräteverfügbarkeit >95 %
Wichtigste Anwendungsbereiche
1. Leistungselektronische Bauelemente
6-Zoll-4H-SiC-Substrate für MOSFETs/Dioden mit 1200 V+ Spannung, wodurch die Schaltverluste um 50 % reduziert werden.
2. 5G-Kommunikation
Halbisolierende SiC-Substrate (spezifischer Widerstand >10⁸Ω·cm) für Basisstations-PAs mit einer Einfügungsdämpfung von <0,3dB bei >10GHz.
3. Fahrzeuge mit neuer Energie
Automobiltaugliche SiC-Leistungsmodule verlängern die Reichweite von Elektrofahrzeugen um 5-8 % und verkürzen die Ladezeit um 30 %.
4. PV-Wechselrichter
Substrate mit geringen Defekten steigern die Umwandlungseffizienz auf über 99 % und reduzieren gleichzeitig die Systemgröße um 40 %.
Dienstleistungen von XKH
1. Anpassungsdienstleistungen
Maßgeschneiderte 4-8 Zoll CVD-Systeme.
Unterstützt das Wachstum von 4H/6H-N-Typen, 4H/6H-SEMI-Isoliertypen usw.
2. Technischer Support
Umfassende Schulung zu Bedienung und Prozessoptimierung.
Technischer Support rund um die Uhr.
3. Schlüsselfertige Lösungen
Komplettservice von der Installation bis zur Prozessvalidierung.
4. Materialversorgung
2-12 Zoll SiC-Substrate/Epi-Wafer erhältlich.
Unterstützt 4H/6H/3C-Polytypen.
Zu den wichtigsten Unterscheidungsmerkmalen gehören:
Bis zu 8 Zoll große Kristalle können wachsen.
20 % schnellere Wachstumsrate als der Branchendurchschnitt.
98 % Systemzuverlässigkeit.
Komplettes intelligentes Steuerungssystempaket.









